高低溫試驗(yàn)箱能夠提供一個(gè)高溫環(huán)境或低溫環(huán)境，主要用于考核產(chǎn)品在高低溫環(huán)境中的性能。許多電子元器件在正式投入使用或批量生產(chǎn)前都需要進(jìn)行耐高低溫的例行試驗(yàn)，以檢驗(yàn)其性能指標(biāo)的穩(wěn)定性。

        產(chǎn)品的電子零部件和整機(jī)，它們都需要進(jìn)行高低溫的環(huán)境試驗(yàn)。各種領(lǐng)域包括汽車、摩托、航空航天、工業(yè)、火箭、國(guó)防、高等院校、科研單位等等，這些領(lǐng)域中的產(chǎn)品的控制系統(tǒng)、導(dǎo)航系統(tǒng)、顯示系統(tǒng)等中的電子元器件性能都需要通過(guò)高低溫的檢測(cè)。因此，高低溫試驗(yàn)箱在科學(xué)試驗(yàn)及產(chǎn)品測(cè)試中發(fā)揮著極其重要且不可替代的作用，高低溫試驗(yàn)箱的正常運(yùn)行是保證試驗(yàn)正常進(jìn)行的一個(gè)基本條件。由于高低溫試驗(yàn)一般持續(xù)時(shí)間長(zhǎng)，工作時(shí)伴有一定的噪音、振動(dòng)，可能會(huì)出現(xiàn)由于執(zhí)行元件（如加熱器件、制冷器件等）、控制器、調(diào)節(jié)器、接觸器、電接點(diǎn)溫度計(jì)燒毀或者損壞造成高低溫試驗(yàn)箱在進(jìn)行過(guò)程中突然無(wú)加熱或者加熱不受控制。

        也有可能會(huì)出現(xiàn)由于制冷執(zhí)行元件接觸不良、電磁閥控制、壓縮機(jī)、水冷系統(tǒng)、風(fēng)冷系統(tǒng)等工作不正常而引起的制冷工作異常。當(dāng)高低溫試驗(yàn)箱出現(xiàn)故障時(shí)如果不能及時(shí)發(fā)現(xiàn)，輕則可能會(huì)由于其溫度不在的范圍內(nèi)而造成測(cè)試結(jié)果不正確，重則會(huì)造成被測(cè)系統(tǒng)或電子元器件由于過(guò)熱或過(guò)冷而損壞甚至發(fā)生火災(zāi)事故。

        所以，在高低溫試驗(yàn)箱出現(xiàn)故障時(shí)希望能夠及時(shí)切斷電源，及時(shí)排除故障，從而保護(hù)各種設(shè)備。由于測(cè)量條件以及我們對(duì)高低溫試驗(yàn)箱維護(hù)的要求，需要實(shí)時(shí)的對(duì)溫度值進(jìn)行測(cè)量與分析，因此研究對(duì)高低溫試驗(yàn)箱監(jiān)控系統(tǒng)的設(shè)計(jì)很有必要。

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