X射線測厚儀標(biāo)準(zhǔn)校正片，建檔標(biāo)準(zhǔn)片，校正標(biāo)準(zhǔn)片，X射線標(biāo)準(zhǔn)校正，美國Calmetrics膜厚儀Calibration Standard： X射線測厚儀 鍍層膜厚片 測厚儀 其專門為儀器大廠如Fischer、Oxford（CMI）、Thermo、Veeco、Micro Pioneer、Seiko等生產(chǎn)制作標(biāo)準(zhǔn)樣品。 適用于Fischer、Oxford、CMI、Thermo、Veeco、Micro Pioneer、Seiko等各廠牌X-ray（X射線測厚儀）、 β-ray（β射線測厚儀）、磁感式及渦電流等多種原理的各種規(guī)格與尺寸。特色：A2LA校正認(rèn)證，質(zhì)量精良，精度高、穩(wěn)定性好 X-Ray、β-Ray、磁感式、渦電流式 測厚儀又名膜厚儀校準(zhǔn)片或者薄膜片，專業(yè)用于X射線測厚儀（膜厚儀）在測金屬鍍層厚度時(shí)進(jìn)行的儀器標(biāo)準(zhǔn)化校準(zhǔn)及建立測量分析檔案。 X射線測厚儀一般分為單鍍層片，雙鍍層片、多鍍層片、合金鍍層片、化學(xué)鍍層片。例如：單鍍層：Ag/xx，雙鍍層：Au/Ni/xx， 三鍍層：Au/Pd/Ni/xx，合金鍍層：Sn-Pb/xx， 化學(xué)鍍層：Ni-P/xx。（所有都附有NIST證書） 我們可以根據(jù)客戶不同的金屬元素、鍍層結(jié)構(gòu)及鍍層厚度等要求向美國工廠定做合格的，并附有厚度值NIST證書.