快速溫度變化試驗(yàn)機(jī) 15℃/min 濕熱環(huán)境模擬

一、產(chǎn)品概述：

該設(shè)備適用于學(xué)校，工廠，科研單位，實(shí)驗(yàn)室、高校等單位，來檢測(cè)各種電子元?dú)饧诟邷?，低溫或高低溫交替環(huán)境下的各項(xiàng)性能指標(biāo)、貯存和使用的適應(yīng)性。

二、技術(shù)參數(shù)：

三、箱體結(jié)構(gòu)：

l 箱體造型美觀大方，采用數(shù)控機(jī)床加工成型，并采用無(wú)反作用把手，操作簡(jiǎn)便。

l 箱體內(nèi)膽采用高級(jí)不銹鋼（SUS304）鏡面板，箱體采用冷軋鋼板靜電噴塑，增加了外觀質(zhì)感和潔凈度。

l 大型觀測(cè)視窗附照明燈保持箱內(nèi)明亮，且利用發(fā)熱體內(nèi)嵌式鋼化玻璃，隨時(shí)清晰的觀測(cè)箱內(nèi)狀況。箱體左側(cè)配有測(cè)試孔，可供外接測(cè)試電源線或信號(hào)線使用。(孔徑或孔數(shù)須增加定貨時(shí)說明)。

l 機(jī)器底部采用高品質(zhì)可固定式PU活動(dòng)輪。

四、符合標(biāo)準(zhǔn)：

l GB-2423.1-89（IEC68-2-1）試驗(yàn) A：低溫試驗(yàn)方法。

l GB-2423.2-89（IEC68-2-2）試驗(yàn) B：高溫試驗(yàn)方法。

l GJB360.8-87（MIL-STD-202F）高溫壽命試驗(yàn)。

l GBJ150.3(MIL-STD-810D)高溫試驗(yàn)方法。

l GJB150.4(MIL-STD-810D)低溫試驗(yàn)方法。

l GB/T 2423.2-2008 試驗(yàn) B《高溫試驗(yàn)方法》

l GB10586-89 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

l GB/T10592-89 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

l GB10592-89 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

l GB11158 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

l GB2423.1-89 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn) A：低溫試驗(yàn)方法

l GB2423.2-89 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn) A：高溫試驗(yàn)方法

l IEC60068-2-1.1990 低溫試驗(yàn)箱試驗(yàn)方法

l IEC60068-2-2.1974 高溫試驗(yàn)箱試驗(yàn)方法

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