離子污染測(cè)試儀Ionograph SMD V

離子污染的動(dòng)態(tài)測(cè)試是一個(gè)被廣泛認(rèn)可和遵循的標(biāo)準(zhǔn)。SCS Ionograph設(shè)備使之成為可能。SCS Ionograph提供不同的型號(hào)，是測(cè)試技術(shù)的行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)。

產(chǎn)品信息

一、概述

SCS Ionograph 是常用清潔標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定的離子污染測(cè)試行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)。使用“動(dòng)態(tài)”測(cè)試方法，該生產(chǎn)線以合理的價(jià)格為您提供可靠的測(cè)試解決方案。此外，SCS Ionograph系列還有四款全新重新設(shè)計(jì)的型號(hào) - Ionograph SMD V和臺(tái)式小型，標(biāo)準(zhǔn)型和大型 - 均由我們*的SCS PowerView 軟件操作。

SCS Ionographs為客戶提供可靠和高效的測(cè)試功能，包括：

• 符合行業(yè)規(guī)范，包括MIL-STD-2000A，IPC-TM-650和ANSI / J-STD-001
• 裸露和組裝印刷電路板的水性和半水性清潔工藝的控制
• 控制清潔和免清洗過程
• 測(cè)試以防止與離子污染相關(guān)的腐蝕或產(chǎn)品性能問題
• 對(duì)性能敏感的小零件進(jìn)行清潔度測(cè)試
• 潔凈室特定產(chǎn)品的清潔度測(cè)試，如手套，夾具，裝配工具和精密制造中使用的關(guān)鍵組裝部件
• 無清潔/低殘留工藝的過程控制，包括噴霧流量器的設(shè)置和監(jiān)控

二、特征

• 專為在生產(chǎn)環(huán)境中進(jìn)行大部件產(chǎn)品離子污染測(cè)試而設(shè)計(jì)
• 浸沒式攪拌噴嘴和可選的加熱提取液可提供出色的靈敏度
• 提供方便的一體機(jī)電腦或平板電腦
• 使用SCS PowerView軟件運(yùn)行
• 測(cè)試槽有四種測(cè)試槽尺寸可用

關(guān)于加熱溶液測(cè)試。

SMD V可讓您選擇使用加熱溶液進(jìn)行測(cè)試。 由于IPC-TM-650描述了這一優(yōu)勢(shì)，因此使用加熱溶液進(jìn)行測(cè)試可以幫助您“加速并提高從難以接近的區(qū)域（如表面安裝元件下方）提取離子材料的效率。”

三、離子污染測(cè)試儀規(guī)格

*超溫控制：雙重故障保護(hù)。

在中國(guó)，上海益朗儀器有限公司負(fù)責(zé)離子污染試驗(yàn)系統(tǒng) Ionograph SMD V的銷售和維修、維護(hù)、配件及消耗品的供應(yīng)。如有任何需要，請(qǐng)致電我們。謝謝！