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光學(xué)鍍膜橢偏儀

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產(chǎn)品型號ME-L

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廠商性質(zhì)其他

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更新時間：2025-01-21 09:29:12瀏覽次數(shù)：53次

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  材料光學(xué)檢測儀器

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昆山琦凡精密儀器有限公司

經(jīng)營模式：其他

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聯(lián)系人：郭先生

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產(chǎn)品簡介

簡要描述：光學(xué)鍍膜橢偏儀ME-L 是一款科研級全自動高精度穆勒矩陣型橢偏儀，凝聚了頤光科研團隊在橢偏技術(shù)多年的投入，其采用行業(yè)前沿的創(chuàng)新技術(shù)，包括消色差補償器、雙旋轉(zhuǎn)補償器同步控制、穆勒矩陣數(shù)據(jù)分析等?？蓱?yīng)用于各種各向同性/異性薄膜材料膜厚、光學(xué)納米光柵常數(shù)以及一維/二維納米光柵材料結(jié)構(gòu)的表征分析。

詳細(xì)介紹

價格區(qū)間	10萬-30萬	產(chǎn)地類別	國產(chǎn)

名稱：光學(xué)鍍膜橢偏儀

型號：ME-L

品牌：頤光

光學(xué)鍍膜橢偏儀在手機蓋板中的應(yīng)用

光學(xué)鍍膜就好比女士化妝，不僅可使玻璃蓋板、背板更漂亮，也可以起到抗氧化、耐酸堿等作用，所以在如今這個“看臉”的時代，蓋板的光學(xué)鍍膜是非常重要的，目前常見的包括AR、AF、AG及后蓋顏色膜等鍍膜應(yīng)用。

光學(xué)鍍膜橢偏儀蓋板光學(xué)鍍膜痛點分析

1、AR膜透過率不合格NG

2、顏色膜調(diào)色困難，周期長。

3、量產(chǎn)過程產(chǎn)品不穩(wěn)定，存在色差。

橢偏儀在光學(xué)鍍膜各階段的作用

造成蓋板光學(xué)鍍膜產(chǎn)品不良的主要因素在于：

A；仿真設(shè)計調(diào)用材料折射率與鍍膜生產(chǎn)中實際材料折射率不符。

B；鍍膜設(shè)備實際鍍層厚度與膜系設(shè)計要求不符。

C；量產(chǎn)過程對鍍膜設(shè)備穩(wěn)定性/均勻性缺乏有效評估手段。

橢偏儀可以有效測量修正上述影響因子，為蓋板量產(chǎn)保駕護航。

1：膜系設(shè)計——膜層實際折射率的標(biāo)定

★鍍膜實際折射率的影響因素：供氧量、真空度、電子槍光斑大小、溫度等

★橢偏儀可直接測量獲得薄膜材料的光學(xué)常數(shù)和薄膜厚度，因此通過鍍膜機在Si襯底或玻璃襯底上鍍單層SiO2、TiO2、Nb2O5、In薄膜，可直接準(zhǔn)確測量獲得薄膜的光學(xué)常數(shù)。

★通過調(diào)整鍍膜機參數(shù)，以橢偏儀測量獲得的單層SiO2、TiO2、Nb2O5、In薄膜光學(xué)常數(shù)為反饋，將薄膜材料光學(xué)常數(shù)調(diào)整至狀態(tài)。此時對應(yīng)的鍍膜機參數(shù)即為厚度鍍膜時所需設(shè)定的終參數(shù)。