詳細(xì)摘要: 高性能X射線熒光測(cè)量?jī)x,配有的硅漂移探測(cè)(SDD),可快速、無(wú)損地進(jìn)行RoHS檢測(cè)、材料分析和鍍層厚度測(cè)量。
產(chǎn)品型號(hào):X-RAY/250/252所在地:上海市更新時(shí)間:2025-01-28 在線留言探礦設(shè)備 井下采掘 地面采掘 運(yùn)輸機(jī)械 選礦設(shè)備 采礦輔助設(shè)備 石油開(kāi)采設(shè)備 挖沙機(jī)械 其它礦業(yè)設(shè)備 其它開(kāi)采設(shè)備



















