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ASUT-330+電力支柱絕緣子專用數(shù)字超聲波探傷儀

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產(chǎn)品型號(hào)ASUT-330+

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

用于檢測(cè)各種材料內(nèi)部的缺陷（電力支柱絕緣子，磁套，鋼、不銹鋼、銅、鋁、硬質(zhì)合金、鑄件、復(fù)合材料、和焊

詳細(xì)介紹

ASUT-330+電力支柱絕緣子專用數(shù)字超聲波探傷儀

ASUT-330+電力支柱絕緣子專用數(shù)字超聲波探傷儀。該機(jī)型為我公司型數(shù)字超聲波產(chǎn)品，集成和整合了多項(xiàng)國(guó)際國(guó)內(nèi)的科研和研究成果。

本產(chǎn)品均屬設(shè)計(jì)、制造精良的高科技產(chǎn)品，在研制過(guò)程中經(jīng)過(guò)了嚴(yán)格的技術(shù)評(píng)估和全面測(cè)試，具有很高的可靠性。本產(chǎn)品功能實(shí)用、操作簡(jiǎn)單、性能穩(wěn)定，人機(jī)對(duì)話功能可引導(dǎo)您熟悉本設(shè)備的各種功能。

引用標(biāo)準(zhǔn)：

下列標(biāo)準(zhǔn)所包含的條文，通過(guò)本標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)用而構(gòu)成為本標(biāo)準(zhǔn)的條文。本標(biāo)準(zhǔn)出版時(shí)，所示版本均為有效。所有標(biāo)準(zhǔn)都會(huì)被修訂，使用本標(biāo)準(zhǔn)的各方應(yīng)探討使用下列標(biāo)準(zhǔn)版本的可能性。

GB 772-2005 高壓電瓷瓷件技術(shù)條件

JB／Z 9674-1999 超聲波探測(cè)瓷件內(nèi)部缺陷

JB/T 10061－1999 A型脈沖反射式超聲波探傷儀通用技術(shù)條件

JB/T 10062－1999 超聲探傷用探頭性能測(cè)試方法

ASUT-330+系列根據(jù)JB/T10061-1999“A型脈沖反射式超聲波探傷儀通用技術(shù)條件"和JJG746-2004“超聲探傷儀檢定規(guī)程"設(shè)計(jì)和檢驗(yàn)，并以安全和完好的技術(shù)狀態(tài)出廠。

推出的ASUT-330+系列是一種的數(shù)字式超聲探傷儀，采用嵌入式計(jì)算機(jī)系統(tǒng)和超大規(guī)模現(xiàn)場(chǎng)可編程集成電路設(shè)計(jì)，具有多顏色的TFT顯示和許多新特點(diǎn)，承襲和改進(jìn)了原系列超聲波探傷儀所有經(jīng)過(guò)實(shí)踐驗(yàn)證的信號(hào)處理和實(shí)用探傷功能及測(cè)量能力；通過(guò)LAN以太網(wǎng)接口可實(shí)現(xiàn)與計(jì)算機(jī)的實(shí)時(shí)通訊，大容量數(shù)據(jù)庫(kù)存儲(chǔ)，高速USB2.0接口U盤將詳細(xì)的檢測(cè)數(shù)據(jù)輸出到計(jì)算機(jī)等，可滿足各種挑戰(zhàn)性的探傷應(yīng)用需求。

該儀器用于檢測(cè)各種材料內(nèi)部的缺陷（電力支柱絕緣子，磁套，鋼、不銹鋼、銅、鋁、硬質(zhì)合金、鑄件、復(fù)合材料、和焊縫等等），可有效檢測(cè)出氣孔、裂紋、疏松、夾雜、未焊透等缺陷，功能全面實(shí)用，是真正的筆記本式數(shù)字超聲波探傷儀，廣泛應(yīng)用在壓力容器制造、金屬鋼結(jié)構(gòu)、船舶制造、機(jī)械制造、電力、化工、石油機(jī)械、汽車、冶金、高校等行業(yè)。

功能簡(jiǎn)介：

l 九十個(gè)電子獨(dú)立探傷通道，各通道探傷參數(shù)可存儲(chǔ)在U盤卡上或U盤（可轉(zhuǎn)存至PC機(jī)上），不丟數(shù)據(jù)；中文觸摸式鍵盤，操作過(guò)程亦有中文提示。

l 儀器內(nèi)存有JB4730、GB11345、DL/T820、ASM/API/Other等標(biāo)準(zhǔn)，DAC曲線自動(dòng)生成，也可根據(jù)實(shí)際工件（如焊縫、鍛件、鑄件、管材、板材、車軸、車輪、電力支柱絕緣子等）生成自定義探傷工藝，現(xiàn)場(chǎng)探傷無(wú)需攜帶試塊。

l 內(nèi)置有大平底、平底孔鍛件探傷方法，AVG曲線自動(dòng)生成，自動(dòng)計(jì)算鍛件探傷靈敏度，可實(shí)時(shí)顯示缺陷孔徑Φ值。具有的可自定義自動(dòng)增益功能，大大減輕操作人員工作強(qiáng)度和時(shí)間。

l 手動(dòng)、自動(dòng)校驗(yàn)探測(cè)功能兩種模式；只需找準(zhǔn)波，可實(shí)現(xiàn)探頭自動(dòng)校準(zhǔn)（始偏、K值），亦可測(cè)試材料聲速。

l 三角聲程測(cè)量數(shù)據(jù)和SL值（DAC）、缺陷孔徑Φ值（AVG）實(shí)時(shí)顯示，聲程數(shù)據(jù)可用毫米和微秒（聲波傳輸飛行時(shí)間）顯示。

l 屏幕凍結(jié)定量功能，隨時(shí)捕捉波形，包括峰值記憶和包絡(luò)波形。自動(dòng)增益功能，大大減輕探傷人員工作強(qiáng)度。

l 報(bào)警功能包括門定位聲光報(bào)警，門位、門寬和門高可任意調(diào)節(jié)；進(jìn)波門失波門報(bào)警。

l 動(dòng)態(tài)波形實(shí)時(shí)顯示功能，現(xiàn)場(chǎng)探傷情況實(shí)時(shí)記錄及計(jì)算機(jī)的處理。

l 彩色LED背光高亮液晶屏顯示動(dòng)態(tài)變化顏色的波形，可以在從明亮、陽(yáng)光直射到黑暗的環(huán)境中高對(duì)比度地觀察波形。液晶屏快速的響應(yīng)時(shí)間（60Hz刷新率）能夠保證在快速掃查時(shí)回波也顯示無(wú)遺；確保無(wú)漏檢之憾。具有全屏顯示及反白顯示功能。屏幕波形及界面色彩用戶可自定義并可保存。

l 擴(kuò)展軟件功能：焊縫剖面缺陷定位顯示；RF 射頻模式下的回波-回波功能。

l 數(shù)據(jù)輸出包括一個(gè) USB 接口、一個(gè)LAN以太網(wǎng)接口、一個(gè)U盤卡插槽，一個(gè)U盤接口，存儲(chǔ)器的容量擴(kuò)充至2萬(wàn)個(gè)波形數(shù)據(jù)/通道探傷參數(shù)（1G 卡計(jì)算）；

性能指標(biāo)：

l 200Mhz采樣，60Hz屏幕刷新率，工作頻率范圍0.5-40MHz，

l 顯示屏：5.7〞高亮度、高分辨率彩色LED背光TFT液晶顯示屏

l 增益：120dB(0.1、2、6、步距調(diào)節(jié)，亦可直接輸入增益值)

l 聲程最小顯示范圍0.1-7.5mm(鋼縱波)

l 探測(cè)范圍：0.1-15000mm(鋼縱波)

l 聲速范圍：1m/s～99999m/s（1mm步距調(diào)節(jié)，亦可直接輸入聲速值）

l 動(dòng)態(tài)范圍： > 32dB

l 垂直線性誤差： < 3 %

l 水平線性誤差： < 1%

l 噪聲電平 < 10%

l 靈敏度余量： > 60dB(探頭2.5P Φ20，試塊 200mmΦ2平底孔)

l 脈沖移位： 0.0～3000mm

l 探頭延時(shí)： 0.00us～50.00us，分辨率0.01us

l 掃描分辨率：0.1mm (0～100mm)；1mm (100～1000mm)；10mm (1000～8000mm)

儀器前面板各部分名稱

部分專用縱波探頭和專用爬坡探頭

針對(duì)電力支柱絕緣子超聲波探傷檢測(cè)

1.1.1 超聲波探傷要求

1.2.1 每批次支柱瓷絕緣子6年抽樣檢測(cè)1次，其抽樣規(guī)則參見(jiàn)附錄A，同時(shí)還應(yīng)滿足以下規(guī)則：

a) 某廠某批次支柱瓷絕緣子發(fā)生斷裂事故后，應(yīng)對(duì)該廠該批次支柱瓷絕緣子逐只進(jìn)行一次超聲波探傷檢測(cè)。

b) 當(dāng)發(fā)現(xiàn)支柱瓷絕緣子出現(xiàn)裂紋，應(yīng)對(duì)該支柱瓷絕緣子所在變電所的同電壓等級(jí)的所有支柱瓷絕緣子逐只進(jìn)行一次超聲波探傷檢測(cè)。同時(shí)應(yīng)對(duì)同一運(yùn)行單位轄區(qū)內(nèi)，與缺陷支柱瓷絕緣子同廠同批次支柱瓷絕緣子逐只進(jìn)行一次超聲波探傷檢測(cè)。

c) 抽樣超聲波檢測(cè)發(fā)現(xiàn)支柱瓷絕緣子存在嚴(yán)重缺陷時(shí)，應(yīng)對(duì)同一運(yùn)行單位轄區(qū)內(nèi)，與缺陷支柱瓷絕緣子同廠同批次瓷絕緣子支柱瓷絕緣子逐只進(jìn)行一次超聲波探傷檢測(cè)。

1.2.2 支柱瓷絕緣子的超聲波探傷檢測(cè)判廢依據(jù)見(jiàn).

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2.2.2 超聲波探傷試驗(yàn)及判廢依據(jù)

支柱瓷絕緣子的超聲波探傷檢測(cè)，可選擇采用爬波檢測(cè)法、縱波斜探頭檢測(cè)法，推薦采用爬波檢測(cè)法。采用爬波法檢測(cè)發(fā)現(xiàn)缺陷時(shí)，可用縱波斜探頭探傷方法進(jìn)行驗(yàn)證，也可以爬波法驗(yàn)證縱波斜探頭探傷發(fā)現(xiàn)的缺陷。

2.2.2.1 采用爬波探頭探傷方法進(jìn)行檢測(cè)，出現(xiàn)下列情況之一者，應(yīng)予判廢。

a) 缺陷波高度超過(guò)1mm人工割口的波幅-距離曲線且裂紋長(zhǎng)度超過(guò)lcm，應(yīng)予判廢。

b) 缺陷波高度超過(guò)lmm人工割口的波幅-距離曲線且裂紋長(zhǎng)度在lcm以下，應(yīng)將缺陷記錄存檔，在下次檢測(cè)時(shí)觀察看裂紋有無(wú)變化，如果裂紋深度或長(zhǎng)度增加，應(yīng)予判廢。

2.2.2.2 采用縱波斜探頭探傷方法進(jìn)行檢測(cè)，出現(xiàn)下列情況之一者，應(yīng)予判廢。

a) 有缺陷波，裂紋深度超過(guò)lmm、長(zhǎng)度超過(guò)lcm時(shí)，應(yīng)予判廢。

b) 有缺陷波，裂紋深度超過(guò)lmm、長(zhǎng)度小于lcm時(shí)，應(yīng)將缺陷記錄存檔，在下次檢測(cè)時(shí)觀察裂紋有無(wú)變化，如果裂紋深度或長(zhǎng)度增加，應(yīng)予判廢。

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