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岱美儀器技術服務（上海）有限公司
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所 在 地上海
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更新時間：2025-04-02 09:40:22瀏覽次數(shù)：292次
聯(lián)系我時，請告知來自 重工機械網(wǎng)1.產品概述FR-pRo膜厚儀:按客戶的需求量身定制的薄膜特性測量工具
1. 產品概述
2. 膜厚儀應用
FR-pRo膜厚儀可由用戶按需選擇裝配模塊，和心部件包括光源，光譜儀（適用于 200nm-2500nm 內的任何光譜系統(tǒng)）和控制單元，電子通訊模塊。
此外，還有各種各種配件，比如:
通過不同模塊組合，蕞終的配置可以滿足任何終端用戶的需求。
3. 膜厚儀規(guī)格（Specificatins ）
4. 膜厚儀配件（Accessries）
電腦 19 英寸屏幕的筆記本電腦/觸摸屏電腦 聚焦模塊 光學聚焦模塊安裝在反射探頭上，光斑尺寸＜100um 薄膜/比色皿容器 在標準器皿中對薄膜或液體的透射率測量 接觸式探頭 用于涂層厚度測量和光學測量的配件，適用于彎曲表面和曲面樣品 顯微鏡 用于高橫向分辨率的反射率及厚度顯微測量 自動化平臺薄膜測繪 帶有圓晶卡盤的Polar（R-Θ）或 Cartesian（X-Y）自動化樣品臺可選，Polar（R-Θ）樣品臺支持反射率測量，Cartesian（X-Y）樣品臺支持反射率和透射率測量 積分球組件 用于測量涂層和表面的鏡面反射和漫反射 手動 X-Y 樣品臺 測量面積為 100mmx100mm 或 200mmx200mm 的X-Y 手動平臺 加熱模塊 嵌入FR-tool 中，范圍由室溫~200oC，通過FR-Monitor 運行可編程溫控器(0.1 oC 精度). 液體模塊 聚四氟乙烯容器，用于通過石英光學窗口測量在液體中的樣品。樣品夾具， 用于將樣品插入可處理 30mmx30mm 樣品的液體中 流通池 液體中吸光率、微量熒光測量
5. 膜厚儀工作原理
白光反射光譜(WLRS)是測量垂直于樣品表面的某一波段的入射光，在經(jīng)多層或單層薄膜反射后，經(jīng)界面干涉產生的反射光譜可確定單層或多層薄膜（透明，半透明或全反射襯底）的厚度及 N*K 光學常數(shù)。
* 規(guī)格如有更改，恕不另行通知; ** 厚度測量范圍即代裱光譜范圍，是基于在高反射襯底折射率為 1.5 的單層膜測量厚度。
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