當前位置：岱美儀器技術(shù)服務（上海）有限公司>>Filmetrics膜厚儀>>Filmetrics F3-sX半導體薄膜測量儀

Filmetrics F3-sX半導體薄膜測量儀

返回列表頁

參考價

面議

具體成交價以合同協(xié)議為準

產(chǎn)品型號

品牌

廠商性質(zhì)其他

所在地上海

在線詢價收藏產(chǎn)品查看聯(lián)系電話

重工機械網(wǎng)采購部電話：0571-88918531QQ:2568841715

聯(lián)系方式：查看聯(lián)系方式

更新時間：2025-04-02 07:57:47瀏覽次數(shù)：60次

聯(lián)系我時，請告知來自重工機械網(wǎng)

產(chǎn)品分類 品牌分類

  Filmetrics膜厚儀

全部產(chǎn)品列表

暫無信息

岱美儀器技術(shù)服務（上海）有限公司

經(jīng)營模式：其他

商鋪產(chǎn)品：92條

所在地區(qū)：

聯(lián)系人：卜先生

詢價 給他留言

產(chǎn)品簡介

FilmetricsF3-sX半導體薄膜測量儀滿足薄膜厚度范圍從15nm到3mm的厚度測試系統(tǒng)F3-sX家族利用光譜反射原理，可以測試眾多半導體及電解層的厚度，可測大厚度達3毫米

詳細介紹

Filmetrics F3-sX半導體薄膜測量儀滿足薄膜厚度范圍從15nm到3mm的厚度測試系統(tǒng)

F3-sX家族利用光譜反射原理，可以測試眾多半導體及電解層的厚度，可測大厚度達3毫米。此類厚膜，相較于較薄膜層表面較粗糙且不均勻，F(xiàn)3-sX系列配置10微米的測試光斑直徑因而可以快速容易的測量其他膜厚測試儀器不能測量的材料膜層。而且僅在幾分之一秒內(nèi)完成。

波長選配

Filmetrics F3-sX半導體薄膜測量儀采用的是近紅外光（NIR）來測量膜層厚度，因此可以測試一些肉眼看是不透明的膜層（比如半導體膜層）。980nm波長型號，F(xiàn)3-s980，專門針對低成本預算應用。F3-s1310針對于高參雜硅應用。F3-s1550則針對較厚膜層設(shè)計。