薄膜電阻測(cè)試儀,半導(dǎo)體材料電阻率儀,方阻測(cè)試儀
ST2253 面議探礦設(shè)備 井下采掘 地面采掘 運(yùn)輸機(jī)械 選礦設(shè)備 采礦輔助設(shè)備 石油開采設(shè)備 挖沙機(jī)械 其它礦業(yè)設(shè)備 其它開采設(shè)備
東莞市眾升儀器有限公司
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產(chǎn)品型號(hào)ST2253
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廠商性質(zhì)其他
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更新時(shí)間:2023-03-21 14:01:21瀏覽次數(shù):430次
聯(lián)系我時(shí),請(qǐng)告知來(lái)自 重工機(jī)械網(wǎng)薄膜電阻測(cè)試儀,半導(dǎo)體材料電阻率儀,方阻測(cè)試儀: 薄膜電阻測(cè)試儀也叫薄膜電阻率測(cè)試儀,方阻測(cè)試儀,可以測(cè)量半導(dǎo)體材料的電阻率,測(cè)量擴(kuò)散層的薄層電阻(亦稱方阻)。換上特制的四探針測(cè)試夾具,還可以對(duì)金屬導(dǎo)體的低、中值電阻進(jìn)行測(cè)量。儀器由主機(jī)、測(cè)試探頭(可選配測(cè)試臺(tái))等部分組成,測(cè)試結(jié)果由主機(jī)數(shù)碼管直接顯示。也可連接PC機(jī)由配套軟件在PC機(jī)上操作,其數(shù)據(jù)可由軟件顯示、分析、保存和打?。?/p>
一、薄膜電阻測(cè)試儀,半導(dǎo)體材料電阻率儀,方阻測(cè)試儀特性:
2.8.外形尺寸:主機(jī) 260mm(長(zhǎng))×210 mm(寬)×125mm(高)
本產(chǎn)品全免費(fèi)保修壹年,長(zhǎng)久維護(hù),免費(fèi)送貨上門調(diào)試并培訓(xùn),培訓(xùn)時(shí)間為半天。
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