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數(shù)字式四探針測試儀,半導體材料的電阻率測試儀

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產(chǎn)品型號ST2258A

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更新時間：2023-03-21 14:00:02瀏覽次數(shù)：292次

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東莞市眾升儀器有限公司

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聯(lián)系人：陳平

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產(chǎn)品簡介

數(shù)字式四探針測試儀,半導體材料的電阻率測試儀簡介： ST2258A型多功能數(shù)字式四探針測試儀是運用四探針測量原理的多用途綜合測量裝置，它可以測量片狀、塊狀半導體材料的電阻率，擴散層的薄層電阻（亦稱方塊電阻）。也可測柔性導電薄膜和玻璃等硬基底上導電膜的方塊電阻（簡稱方阻），換上四端子測試夾具，還可對電阻器體電阻、金屬導體的低、中值電阻以及開關(guān)類接觸電阻進行測量。

詳細介紹

數(shù)字式四探針測試儀,半導體材料的電阻率測試儀特點：

本測試儀特贈設(shè)測試結(jié)果分類功能，*大分類10類

儀器所有參數(shù)設(shè)定、功能轉(zhuǎn)換全部采用數(shù)字化鍵盤輸入；具有零位、滿度自校功能；自動轉(zhuǎn)換量程；測試探頭采用高耐磨碳化鎢探針制成，故定位準確、游移率小、壽命長；測試結(jié)果由數(shù)字表頭直接顯示。

基本技術(shù)參數(shù)

1. 常規(guī)測量范圍、分辨率（量程可向上或下擴展1～2個數(shù)量級）

電阻： 1.0×10^-4～ 200.0×10³Ω, 分辨率0.1×10^-3～ 0.1×10³Ω

電阻率： 1.0×10^-4～ 200.0×10³ Ω-cm 分辨率0.1×10^-3～ 0.1×10³ Ω-cm

方塊電阻： 1.0×10^-3～ 200.0×10³ Ω/□ 分辨率1.0×10^-3～ 0.1×10³ Ω/□

2. 可測半導體材料尺寸

直徑：測試臺直接測試方式 Φ15～130mm，其他方式不限.

長（或高）度：測試臺直接測試方式 H≤160mm, 其他方式不限.

3. 量程劃分及誤差等級

量程	200.0	20.00	2.000	200.0	20.00	2.000	200.0
量程	kΩ-cm/□			Ω-cm/□			mΩ-cm/□
基本誤差	±2%FSB±4LSB	±1.5%FSB±4LSB	±0.5%FSB±2LSB				±0.5%FSB ±4LSB