產(chǎn)品特點:
+ 可以精確測量Seebeck系數(shù)二維分布的商業(yè)化設(shè)備。
+ 精確的力學(xué)傳感器可以確保探針與樣品良好的接觸。
+ 采用鎖相技術(shù),精度超過大型測試設(shè)備。
+ 快速測量、方便使用,可測塊體和薄膜。
主要技術(shù)參數(shù):
+ 位置定位精度:單向 0.05 μm;雙向 1 μm
+ 大掃描區(qū)域:100 mm × 100 mm 典型值
+ 局部測量精度:5 μm(與該區(qū)域的熱傳導(dǎo)有關(guān))
+ 信號測量精度:100 nV(采用高精度數(shù)字電壓表)
+ 測量結(jié)果重復(fù)性:重復(fù)性誤差優(yōu)于3%
+ 塞貝克系數(shù)測量誤差:< 3% (半導(dǎo)體);< 5% (金屬)
+ 電導(dǎo)率測量誤差: < 4%
+ 測量速度:測量一個點的時間4-20秒






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