TMS是一套全波長的0度角透過率檢測儀，能快速準(zhǔn)確地測量各類平面光學(xué)元件的透光率，可用于實(shí)時在線檢測，實(shí)現(xiàn)產(chǎn)品全檢。適用于棱鏡、鍍膜鏡、膠合鏡、平行平板、太陽膜、濾光片等平面光學(xué)元件的檢測。

技術(shù)參數(shù)

TMS透過率檢測儀-獨(dú)特的軟件設(shè)計

智能化軟件操作:可自定義測量方式和角度，實(shí)時顯示測量樣品關(guān)注波長位置的透/反射率數(shù)據(jù)，自動調(diào)整顯示坐標(biāo)范圍，高效地進(jìn)行批量樣品檢測及譜圖對比分析。

譜圖管理:可同時記錄多達(dá)20個樣品譜圖，批量保存測量結(jié)果，記錄譜圖測試積分時間，能對譜圖進(jìn)行更名、定義顏色、選擇是否顯示、加粗等操作，地方便了譜圖的管理和分析。

自定義測量方案:用戶可以自行定義測量的方案，同時設(shè)置判定標(biāo)準(zhǔn)，使檢測更快速，結(jié)果更準(zhǔn)確。

譜圖數(shù)據(jù)處理功能:備有豐富的光學(xué)元件數(shù)據(jù)庫，可根據(jù)數(shù)據(jù)庫已存標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)對比分析結(jié)果，用戶可自行對數(shù)據(jù)庫進(jìn)行添加、修改和刪除，還可將測量數(shù)據(jù)導(dǎo)入Excel有利于進(jìn)一步對譜圖進(jìn)行分析和研究。

CIE顏色測量功能:可以計算樣品各種CIE顏色參數(shù)， x，y，L,a,b,飽和度，主波長等。

數(shù)據(jù)報告打印功能:可快速批量打印樣品測量數(shù)據(jù)及譜圖，自定義測量報告出具單位名稱。

客戶可根據(jù)實(shí)際預(yù)算和測試精度選擇不同的光譜儀而搭配成以下三種透過率反射測試系統(tǒng)：

TMS-III，光譜儀為QE65Pro

TMS-II，光譜儀為Maya2000Pro

TMS-I，光譜儀為USB2000+