GeminiSEM系列--高分辨，不挑樣

長久以來，蔡司場發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM一直是高分辨力與寬樣品適用性的代名詞。無論您從事的研究方向是什么，GeminiSEM都可以滿足您的需求。創(chuàng)新的電子光學(xué)系統(tǒng)和新型樣品腔室設(shè)計(jì)可讓您擁有更佳的圖像質(zhì)量、易用性和靈活性。蔡司場發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM兼具出色的成像和分析能力，不依靠浸沒式物鏡依然可以輕松實(shí)現(xiàn)1 kV以下的亞納米級(jí)分辨力。以下內(nèi)容可以使您進(jìn)一步了解Gemini電子光學(xué)系統(tǒng)的三大獨(dú)特設(shè)計(jì)，探索蔡司場發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM的應(yīng)用潛能。

更靈活的成像工具 – 配備Gemini 1鏡筒的蔡司場發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM 360可以實(shí)現(xiàn)各種樣品的高分辨成像、分析和各種應(yīng)用需求的拓展。

更的分析能力 - 配備Gemini 2鏡筒的蔡司場發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM 460可應(yīng)對(duì)更加復(fù)雜的分析工作。連續(xù)可調(diào)的大束流使您可以在成像和分析條件之間無縫切換。

更的表征體驗(yàn) - 蔡司場發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM 560配有Gemini 3鏡筒及其新型電子光學(xué)引擎，讓它在各種工作條件下均可發(fā)揮該系列*出色的分辨率特性。

不導(dǎo)電礦物斷裂表面的納米級(jí)特征

蔡司場發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM 460

幫助您快速分析的同時(shí)兼顧大束流和高分辨。

利用高分辨率和大束流

場發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM 460專為有挑戰(zhàn)性的分析任務(wù)而設(shè)計(jì)，可進(jìn)行高效分析和自動(dòng)的工作流程。

Gemini 2鏡筒可快速執(zhí)行高分辨成像和大束流分析：從小束流-低電壓無縫切換到大束流-高電壓。

并行使用多個(gè)探測器，提供樣品的數(shù)據(jù)。

多接口腔室設(shè)計(jì)可兼容更多探測器，以進(jìn)行高效分析。

使用新的VP模式在大束流下采集EBSD譜圖可達(dá)4000點(diǎn)/秒的標(biāo)定率。

對(duì)于化學(xué)成分和晶體取向的分析，具有兩個(gè)對(duì)稱的EDS端口和共面的EDS/EBSD幾何學(xué)設(shè)計(jì)，可實(shí)現(xiàn)更快速度且無陰影的面分析結(jié)果。

多功能的樣品腔室滿足您不同應(yīng)用需求的個(gè)性化配置。

定制化的自動(dòng)化工作流程

的分析功能與自動(dòng)化流程相結(jié)合，讓您的分析工作更進(jìn)一步。并且蔡司還可以通過Python腳本來定制您自己的自動(dòng)化實(shí)驗(yàn)。

修改實(shí)驗(yàn)過程并根據(jù)您的要求定制結(jié)果輸出。

STEM三維成像功能：將自動(dòng)傾斜和旋轉(zhuǎn)與蔡司特征點(diǎn)跟蹤相結(jié)合。將所有自動(dòng)對(duì)齊的圖像發(fā)送到專有的3D重構(gòu)軟件后，生成具有納米級(jí)分辨率的3D形貌。

當(dāng)您需要測試材料的加工特性時(shí)，蔡司將為您提供自動(dòng)化的原位加熱和拉伸實(shí)驗(yàn)平臺(tái)：它可以讓您自動(dòng)觀察在加熱和拉伸條件下的材料，同時(shí)動(dòng)態(tài)繪制應(yīng)力-應(yīng)變曲線。

讓您的場發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM 460成為原位實(shí)驗(yàn)室。

為您帶來更多可能性

基于Gemini 2鏡筒設(shè)計(jì)，即使在低電壓時(shí)，也可以通過調(diào)高束流密度來提高分析能力。

能夠使系統(tǒng)與各種配件相兼容。多功能型腔室不僅可以配置分析附件，還可以配置原位臺(tái)、冷凍傳輸系統(tǒng)和納米探針。

因此，您可以隨時(shí)對(duì)儀器進(jìn)行配置更改和升級(jí)。

所有GeminiSEM均已融入蔡司ZEN core生態(tài)系統(tǒng)，您可以利用ZEN Connect、ZEN Intellesis和ZEN分析模塊，以獲取報(bào)告和GxP工作流程。