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LCD COG導(dǎo)電粒子壓痕 粒子爆破檢測(cè)顯微鏡 微分干涉顯微鏡

參考價(jià) 56000
訂貨量 ≥1臺(tái)
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱深圳市三昊儀器設(shè)備有限公司
  • 品       牌
  • 型       號(hào)WFX-10
  • 所  在  地深圳市
  • 廠商性質(zhì)其他
  • 更新時(shí)間2025/1/29 11:30:45
  • 訪問(wèn)次數(shù)31
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 三昊儀器設(shè)備有限公司是一家*銷售金相實(shí)驗(yàn)室系列儀器設(shè)備和耗材,主要包括金相切割,研磨,拋光機(jī),光學(xué)顯微鏡,面銅,孔銅,膜厚測(cè)量?jī)x,環(huán)境試驗(yàn)機(jī),老化試驗(yàn)機(jī),等實(shí)驗(yàn)室規(guī)劃設(shè)計(jì)。普遍受到各大電子,PCB,LCD,通信,微電子,化工,科研,航天等行業(yè)使用,均得到廣泛客戶的認(rèn)可與嘉許。自創(chuàng)辦以來(lái),三昊儀器秉承“誠(chéng)信敬業(yè),求實(shí)創(chuàng)新,服務(wù)客戶。并致力于技術(shù)研究與質(zhì)量改善:配套提供*意見,*的產(chǎn)品,快速的售后服務(wù)。
  三昊儀器就始終不渝地銳意追求科學(xué)技術(shù)進(jìn)步,這種開拓精神一直被三昊儀器堅(jiān)持至今。
  主要銷售儀器如下:
  金相前處理設(shè)備:(自主研發(fā)生產(chǎn))
  1.金相精密鑽石切割機(jī)/快速切割機(jī)2.手動(dòng)/自動(dòng)金相取樣機(jī)
  3.手動(dòng)/自動(dòng)沖床4.手動(dòng)/自動(dòng)(單盤;雙盤)研磨拋光機(jī)
  5.45度/90度銅箔拉力測(cè)試儀6.電腦司服馬達(dá)拉(壓)力測(cè)試儀
  7.耐研磨試驗(yàn)機(jī)8.實(shí)驗(yàn)室整體設(shè)計(jì)規(guī)劃工程
  9.鉆靶機(jī).銑靶機(jī).打靶機(jī),鉆針研磨機(jī),線寬量測(cè)儀,彎折試驗(yàn)機(jī),可程式恒溫恒濕試驗(yàn)機(jī)冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)
  *代理銷售儀器設(shè)備:
  1.金相顯微鏡/工具顯微鏡(日本OLYMPUS,Nikon,Motol)
  2.3D顯微鏡(英國(guó)Vision)3.X-RAY電鍍層測(cè)厚儀(日本精工)
  4.AA原子吸收分光光度計(jì)5.UV紫外可見分光光度計(jì)
  6.DSC示差掃描量熱儀7.孔銅、面銅量測(cè)儀
  8.阻抗測(cè)試儀(POLAR)9.自動(dòng)膜厚測(cè)定儀&膜厚計(jì)
  10.SEM掃描式電子顯微鏡&EDS能量散式元素分析儀
  11.水活性分析儀/自動(dòng)滴定儀12.PH計(jì)
  13.干膜/濕膜厚度測(cè)量?jī)x14.精密電子天平
  15.凝膠化時(shí)間測(cè)試儀16.壓力重合鍋
  試驗(yàn)耗材:研磨砂紙,冷凝樹脂,水晶膠,切片治具,拋光絨布,拋光粉。RCA磨機(jī)膠帶,等…
  在些樣本上找不到的您要的產(chǎn)品資料,請(qǐng)致電我司查詢,我們將為您提供詳細(xì)的產(chǎn)品資料…
極譜儀(伏安儀)
LCD COG導(dǎo)電粒子壓痕 粒子爆破檢測(cè)顯微鏡 微分干涉顯微鏡
LCD COG導(dǎo)電粒子壓痕 粒子爆破檢測(cè)顯微鏡 微分干涉顯微鏡 產(chǎn)品信息
微分干涉顯微鏡
WFX-10顯微鏡為無(wú)限遠(yuǎn)光學(xué)系統(tǒng),長(zhǎng)工作距離平場(chǎng)復(fù)消色差物鏡,穩(wěn)定可靠的架臺(tái),精確的調(diào)焦機(jī)構(gòu)。采用LED用軸光源和LED透射光源照明。偏光系統(tǒng)檢偏鏡可調(diào)轉(zhuǎn)動(dòng)100度便于偏光正交觀察。DIC棱鏡插板機(jī)構(gòu)采用可調(diào)節(jié)的方式可得到***佳的微分干涉效果。大視野單目觀察,減少很多中間環(huán)節(jié),使成像更清晰效果更好。配置高清模擬攝像機(jī)能快速捕捉高質(zhì)量的清晰圖像。
WFX-10顯微鏡穩(wěn)定可靠,操作方便,成像清晰。廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體、電子工業(yè)。對(duì)晶體、集成電路的檢驗(yàn)和科學(xué)研究??膳渲媚M攝像頭對(duì)所觀察的樣品進(jìn)行拍照、儲(chǔ)存、測(cè)量、分析。
用途:
  • 明場(chǎng)觀察:使用亮度可調(diào)的同軸照明,對(duì)晶體、集成電路的檢驗(yàn)、精密制造業(yè)的裝配、零件檢測(cè)和品質(zhì)控制。
  • 透射觀察:采用亮度可調(diào)的透射照明,可觀察透明樣品,尤其對(duì)液晶顯示屏的檢測(cè)效果更好,能清楚的看到發(fā)光屏的三色模塊,因此能檢測(cè)顯示屏的好壞,可判斷其質(zhì)量。
  • 偏光觀察:系統(tǒng)內(nèi)裝置偏光機(jī)構(gòu),起偏鏡固定在照明系統(tǒng);檢偏鏡裝置在成像系統(tǒng)、轉(zhuǎn)動(dòng)100度可調(diào),便于正交觀察。主要對(duì)金相樣品進(jìn)行正交偏振光觀察還可應(yīng)用于礦物、化學(xué)等領(lǐng)域。
  • DIC觀察--微分干涉觀察在明場(chǎng)、偏光正交的系統(tǒng)里再插入DIC棱鏡裝置(渥拉斯頓棱鏡)。(DIC)作為一種前途的分析檢驗(yàn)方法,具有對(duì)金相樣品的制備要求較低,所觀察到的樣品各組成間的相對(duì)層次關(guān)系突出,呈明顯的浮雕狀,對(duì)顆粒、裂紋、孔洞以及凸起等能作出正確的判斷,能夠容易判斷許多明場(chǎng)下所看不到的或難于判別的一些結(jié)構(gòu)細(xì)節(jié)或缺陷,可進(jìn)行彩色金相攝影等優(yōu)點(diǎn)。但在目前的金相檢驗(yàn)工作中,DIC法還利用得很少。 特別是對(duì)液晶顯示屏導(dǎo)電板的檢測(cè)效果更好,能夠清楚的觀察到導(dǎo)電板基板上的導(dǎo)電粒子。使用DIC技術(shù),可以使物體表面微小的高低差展現(xiàn)出清晰,輪廓突出,帶立體感的浮雕成像,*的提高圖像的對(duì)比度。
規(guī)格配置:
  • 無(wú)限遠(yuǎn)光學(xué)系統(tǒng):f=200mm
  • 放大位數(shù):50X、100X、200X500X
  • 長(zhǎng)工作距離:5~45mm
  • 調(diào)焦范圍:60mm
  • 工作臺(tái):260X220mm、玻璃:170X150mm
  • 移動(dòng)范圍:X:±75mmY:±75mm
  • 照明系統(tǒng):垂直照明、透射照明
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