雷達(dá)物位計是一種用于測量容器或料倉中介質(zhì)物位的儀表，它利用雷達(dá)技術(shù)進行非接觸式測量，通過發(fā)射和接收雷達(dá)波進行測量，不需要與物料直接接觸，減少了物料污染和設(shè)備磨損的風(fēng)險，能夠準(zhǔn)確、實時地監(jiān)測物料的高度或液位。

一、產(chǎn)品原理

雷達(dá)物位天線發(fā)射較窄的微波脈沖，經(jīng)天線向下傳輸。微波接觸到被測介質(zhì)表面后被反射回來再次被天線系統(tǒng)接收，將信號傳輸給電子線路部分自動轉(zhuǎn)換成物位信號（因為微波傳播速度極快，電磁波到達(dá)目標(biāo)并經(jīng)反射返回接收器這一來回所用的時間幾乎是瞬間的）。雷達(dá)物位計

二、技術(shù)參數(shù)

應(yīng)    用：固體料、強粉塵、易結(jié)晶、 結(jié)露場合

測量范圍：30米

過程連接：萬向法蘭

介質(zhì)溫度：-40～250℃

過程壓力：-0.1～0.1MPa

精    度：±15mm                              

防護等級：IP67

頻率范圍：26GHz                                         

防爆等級：Exia ⅡC T6 Ga/Exd ia IIC T6 Gb     

信號輸出：4...20mA/HART(兩線/四線)，RS485/Mod bus

三、產(chǎn)品特點

天線尺寸小，便于安裝；非接觸雷達(dá)，無磨損，無污染。

幾乎不受腐蝕、泡沫影響；幾乎不受大氣中水蒸氣、溫度和壓力變化影響。

嚴(yán)重粉塵環(huán)境對高頻物位計工作影響不大。

波長更短，對在傾斜的固體表面有更好的反射。

波束角小，能量集中，增強了回波能力的同時又有利于避開干擾物。

測量盲區(qū)更小，對于小罐測量也會取得良好的效果。

高信噪比，即使在波動的情況下也能獲得更優(yōu)的性能。

高頻率，是測量固體和低介電常數(shù)介質(zhì)的選擇。