Thermo Scientific™ ELEMENT™ GD PLUS GD輝光放電質(zhì)譜儀 (GD-MS)

存在于固體樣品中的幾乎所有元素都可進(jìn)行常規(guī)檢測(cè)和定量：許多元素的含量低于十億分率 (ppb) 水平。

µs 脈沖式高流速輝光放電池

· 采用脈沖放電模式的高靈敏度離子源

· 廣泛可調(diào)的濺射速率適用于快速進(jìn)行整體分析和高級(jí)深度剖析應(yīng)用

· 使用二級(jí)電極進(jìn)行氧化鋁粉末分析

雙聚焦質(zhì)譜儀

· 高離子傳輸率和低背景使得信噪比可達(dá)亞 ppb 級(jí)檢測(cè)限

· 高質(zhì)量分辨率可提供的選擇性和準(zhǔn)確度：是的分析結(jié)果的先決條件

十二數(shù)量級(jí)的自動(dòng)檢測(cè)系統(tǒng)

· 在一次分析中測(cè)定基體和超痕量元素，全自動(dòng)檢測(cè)器涵蓋 12 數(shù)量級(jí)動(dòng)態(tài)線性范圍

· 直接定量測(cè)定基體元素 IBR（離子束比率）

高效率和簡(jiǎn)單易用的軟件包

· 所有參數(shù)均由計(jì)算機(jī)控制

· 全自動(dòng)調(diào)諧、分析和數(shù)據(jù)評(píng)估

· 自動(dòng) LIMS 連接性

· 遠(yuǎn)程控制和診斷

· Windows 7

· 樣品周轉(zhuǎn)時(shí)間通常少于 10 分鐘

· 能夠在一次分析中測(cè)定基體元素到超痕量元素

· 深度剖析涵蓋數(shù)百微米到一納米的層厚度

· 最小化基體效應(yīng)，便于進(jìn)行直接定量

推薦用途：

航空航天：鎳基高溫合金、復(fù)合材料、涂層和擴(kuò)散層的深度剖析

微電子學(xué)：銅、鋁粉、濺射靶材

可再生能源：硅塊、晶片、太陽(yáng)能電池

醫(yī)療/制藥/食品：不銹鋼、合金

1.20Thermo Scientific™ ELEMENT XR高分辨ICPMS

在痕量元素定量分析方面，ICP-MS 擁有*的技術(shù)水平。ICP-MS 最嚴(yán)重的限制是對(duì)元素信號(hào)的多原子干擾。高質(zhì)量數(shù)分辨率是消除這些干擾的金標(biāo)準(zhǔn)，可在痕量水平上準(zhǔn)確可靠地進(jìn)行多元素定量分析，樣品制備步驟極為簡(jiǎn)便。

多元素分析

· 多元素檢測(cè)器可處理瞬變信號(hào)，包括 HPLC、GC 和激光消融。

· 元素周期表中的無(wú)干擾測(cè)量涵蓋基質(zhì)組分（mg?L-1）和超痕量元素（低于 1 pg?L-1）。

· 靈敏度 ICP-MS（低分辨率時(shí)）。

靈活性和可用性

· 高質(zhì)量數(shù)分辨率可獲取譜干擾同位素，生成清晰的元素譜

· 對(duì)無(wú)干擾或受干擾同位素進(jìn)行高精度同位素比分析。

· 熱等離子體和冷等離子體狀態(tài)。

ELEMENT XR ICP-MS

寬線性動(dòng)態(tài)檢測(cè)范圍對(duì)于 ICP-MS 來(lái)說(shuō)至關(guān)重要，因?yàn)槠湓试S通過(guò)單次運(yùn)行分析較寬的濃度范圍。

集成式法拉第檢測(cè)器的特性：

· 采樣時(shí)間低至 1 ms。

· 測(cè)量高強(qiáng)度峰后無(wú)需衰減時(shí)間

· SEM 和法拉第之間自動(dòng)切換，延遲時(shí)間為 <1 ms。

· 不同檢測(cè)器模式之間的線性交叉范圍較寬（>2 個(gè)數(shù)量級(jí)），允許準(zhǔn)確進(jìn)行自動(dòng)交叉校正。

· 動(dòng)態(tài)范圍為 0.2 cps（SEM）到 >1 x 1012 cps（法拉第）。