愛色麗X-Rite光澤度測(cè)量是通過以某個(gè)角度射出一束恒定功率光束來測(cè)試表面并監(jiān)控反射光來完成的。 不同的表面需要不同的反射角度。越來越多的規(guī)范和標(biāo)準(zhǔn)都要求對(duì)光澤度進(jìn)行物理評(píng)估。 光澤度測(cè)量對(duì)監(jiān)測(cè)涂層的均勻度、*性甚至是保護(hù)性光澤涂層的損壞度是很有必要的。X-Rite Elcometer 406 Novo-Gloss 微型光澤度測(cè)量?jī)x具有 60°統(tǒng)計(jì)型和雙角度 20/60°統(tǒng)計(jì)型兩個(gè)版本，允許對(duì)從亮光到不光滑的任何表面進(jìn)行測(cè)量，提供光澤度測(cè)量的數(shù)值。
產(chǎn)品特點(diǎn)：
l 自動(dòng)校準(zhǔn) - 預(yù)設(shè)瓷片值選項(xiàng)，可供快速校準(zhǔn)
l *校準(zhǔn)瓷片狀態(tài)警告
l 所有從非反射表面到鏡面光澤表面的光澤度讀數(shù)
l 對(duì)可變表面進(jìn)行連續(xù)測(cè)量
l 可使用任何標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行校準(zhǔn)（AS 1580-602.2、ASTM 523、ASTM D 1455、ASTM C 584、BS 3900-D5 BS 6161-12、DIN 67530、ECCA T2、ISO 2813、ISO 7668）
l 可*溯源至國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)，包括 BAM
l 可內(nèi)部計(jì)算zui大值、zui小值、平均值、標(biāo)準(zhǔn)偏差和偏差系數(shù)
